变频器驱动部分、模块或开关电源局部损坏时,在精确定位损坏元件前,许多维修人员会拆卸元器件来逐个量测,这样非但维修的速度上不去,而且会因为取下元件量测时因条件不符合实际工作情况而误判,更有电路板实际走线故障(短路、断路、漏电等)而非元件本身故障导致检修走了弯路。笔者在实践中总结出一套一揽子测试方案,无论在变频器故障元件寻找还是修复验证阶段,此法都可谓快捷方便。 我们知道,变频器驱动部分大体都是由CPU板过来的6路信号来驱动光耦,光耦再驱动IGBT模块,驱动部分正常工作的条件:1.各路电源正常;2.光耦正常(大功率变频器还有光耦后级放大部分);3.各种电阻电容等小元件正常;4.模块正常;5.电路板走线正常。以上条件缺一不可。如果这每一路都能真实模拟,那么故障点定位就好办了。请看驱动电路图1按步骤操作:
图1 1. 准备两块万用表,指针表数字表皆可。 2. 将图中R1电阻取下,以隔离试验时对CPU板的影响; 3. 给变频器的开关电源单独给电,模块不要给电(模块的高压电容也不要给电),以防试验时模块受损。总之除了开关电源前级,其它地方不要走高压,如果变频器上有牵连,要想办法隔离(可以把走线临时割断,试验好了再接好)。 4. 测试每一路IGBT的GE极偏压是否正常,(正常会有负偏压) 5. 使用一只万用表“点亮”光耦的发光管,数字表用二极管档,指针表用1Ω档,注意正负极数字表和指针表红黑表笔是反过来的。同时用另一只万用表测IGBT的C极和E极的通断 如此六路,每一路都这样测试,如果IGBT的通断受控,则此路工作必定正常(另外模块有测试正常,但在高压下不正常的,毕竟极少数)。某一路测得不正常则循迹详查可也。此法亦可用于维修后的验证。
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