片式电容器开裂、短路的原因

片式电容具有片式电容，容易片式化等特点，是当今移动通信设备、计算机板卡以及家电遥控中使用最多的元件之一。

很多客户在使用片式电容器时都会遇到开裂、短路、烧损等现象，那么如何处理这些现象呢？我们需要知道这些现象产生的原因。

01片式电容器开裂的原因

1、开裂（指电容器开裂导致产品不能工作），这种现象通常是由电阻低引起的。原因是PCB在外力作用下开路。当非电容器受到外力冲击时，可能发生短路和低电阻。

2、如果施加的应力电压过高，MLCC电容器将失效。一般来说，它是短路和低电阻。当有足够的裕度（在电路设计中是非常重要的一个指标，主要用来衡量负反馈系统的稳定性，并能用来预测闭环系统阶跃响应的过冲），这种现象不宜过多，在这种情况下，一般需要检查产品在工作时是否需要振动或晃动，再检查产品容量是否符合要求。

02片式电容器短路烧损的原因 短路烧损（指PCB板中电容器损坏，导致产品无法继续工作），造成这种现象的原因有：电容器封装型号不够大、耐压太小、产品电流太大。 如果发生这种情况，我们需要更换芯片型号并检查具体原因。选择电容器耐压型号来代替片式电容器，如果找不到合适的型号来代替，可以解决片式电容器串并联的问题。