LJD-D低频绝缘材料介电常数介质损耗测试仪

LJD-D低频绝缘材料介电常数介质损耗测试系统由S916测试装置（夹具）、LJD型介电常数测试主机、组成。依据国标GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美标ASTM D150以及国际电工委员会IEC60250的规定设计制作。系统提供了绝缘材料的高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)自动测量的佳解决方案。

一 本设备适用标准

1 GBT 1409-2006 测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长存内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法

2 GBT 1693-2007 硫化橡胶 介电常数和介质损耗角正切值的测定方法

3 ASTM-D150-介电常数测试方法

4 GB9622.9-88/SJT 11043-1996 电子玻璃高频介质损耗和介电常数的测试方法

二 介电常数/介质损耗测试主机：

1、 LJD参数

2、LJD参数

三 S916（数显）介电常数εr和介质损耗因数tanδ测试装置：

固体：材料测量直径 Φ50mm/Φ38mm 可选；厚度可调 ≥ 15mm （二选一）

液体：测量极片直径 Φ38mm； 液体杯内径Φ48mm 、深7mm（选配）

四 LJD低频介电常数及介质蒜损耗测试系统主要测试材料:

1 绝缘导热硅胶,石英晶玻璃,陶瓷片,薄膜,OCA光学胶,环氧树脂材料,塑料材料,FR4 PCB板材, PA尼龙/涤纶,PE聚乙烯,PTFE聚四氟乙烯,PS聚苯乙烯,PC聚碳酸旨,PVC,PMMA等