LCR数字电桥测量兆欧级高阻值抗电阻的问题

用不同品牌的LCR数字电桥或者同一品牌LCR数字电桥的不同型号，对兆欧级高阻值电阻进行测量时，结果偏差很大，甚至安捷伦、同惠的产品也如此，以下是解决LCR数字电桥测量兆欧级高阻值电阻问题的方法，供大家参考。

LCR数字电桥测量兆欧级高阻值抗电阻

如下图，高阻值包含一个寄生pF级电容，该电容与电阻并联在一起：

确认使用LCR数字电桥测试高阻值电阻时，应选择Cp-Rp测试功能（并联等效电路模式），使测试电路模式与电阻的实际等效电路相匹配，如下图：

上图中，Xp代表寄生电容在测试频率上的电抗（电容性阻抗），公式“D”代表电阻在测试频率上的损耗因素。

如果使用R-X测试功能来测试电阻，那么LCR电桥要采用如下所示的串联等效电路：

串联等效电路模式（R-X测量中）不同于高值电阻的实际并联等效电路，R-X模式中的被测电阻与实际并联电阻（RP）不一致。

从理论上讲，串联电阻（Rs）与并联电阻（Rp）的关系可用等式RS=Rp*D2(1 D2)表示，此处串联和并联等效电路的损耗因数（D）值是相等的：

当D值不够高（纯电阻性）时，串联电阻（Rs）总是低于并联电阻（Rp）。

所以，在使用LCR数字电桥测量高阻值电阻时，请选择Cp-Rp测试功能（并联等效电路模式），或者使用万用表M档进行测试及购买专业电阻测试仪设备。